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XRF歸納之X射線熒光光譜儀使用注意事項(xiàng)
點(diǎn)擊次數(shù):1846  更新時(shí)間:2021-08-06
 【摘要】
  樣品檢測(cè)前,為了減少雜質(zhì)對(duì)結(jié)果的影響,應(yīng)該對(duì)樣品進(jìn)行盡可能的清潔處理。選用清潔試劑時(shí),要極為慎重,以免對(duì)樣品產(chǎn)生影響。
  XRF測(cè)試作為常用測(cè)試之一,但仍有許多同學(xué)不太了解其具體內(nèi)容,本篇文章由科學(xué)指南針科研服務(wù)平臺(tái)給大家介紹X射線熒光光譜儀使用注意事項(xiàng)。
  (1)樣品檢測(cè)前,為了減少雜質(zhì)對(duì)結(jié)果的影響,應(yīng)該對(duì)樣品進(jìn)行盡可能的清潔處理。選用清潔試劑時(shí),要極為慎重,以免對(duì)樣品產(chǎn)生影響。
  (2)為了防止樣品不同區(qū)域的狀態(tài)有所不同,需要對(duì)同一樣品多點(diǎn)測(cè)量,以提高測(cè)量的可信度,即注意采樣點(diǎn)的合理性。
  (3)對(duì)同一樣品進(jìn)行多次測(cè)試,以證明檢測(cè)方法的精密度。
  (4)初期的數(shù)據(jù)需要用不同的檢測(cè)方法和實(shí)驗(yàn)進(jìn)行比對(duì),以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性、可靠性。采用有損檢測(cè)方法(例如化學(xué)分析法,這時(shí)候需要對(duì)不重要的樣品進(jìn)行分析)對(duì)比儀器的檢測(cè)結(jié)果。
  (5)選取標(biāo)樣時(shí)盡可能地與樣品的組成相近。
  (6)X射線熒光光譜法是一種表面分析技術(shù),其分析結(jié)果受樣品表面大小、光潔度和幾何形狀的影響較大。校正公式和校正系數(shù)的建立也需要總結(jié)。
  以上僅為科學(xué)指南針平臺(tái)的自我總結(jié),故此分享給大家,希望可以幫助大家對(duì)測(cè)試更了解,如有測(cè)試需求,可以和科學(xué)指南針聯(lián)系,我們會(huì)給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和較好的服務(wù)體驗(yàn),惟??蒲泄ぷ髡呖梢愿p松的工作。

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